利用r射线通过物质时强度减弱的规律性，将Cs一137或C0一60r射线点源放在被测装置一端，另一端以长圆柱型电离室探测器测量穿过被测物料的射线强度。当料面高度连续变化时，探测器被物料的屏蔽程度也随之变化。即到达探测器处的r射线总注量强度发生变化。测量探侧器输出电流Iout，即可测定被测物料在容器内的料面高度，
电流;u、p、I分别为被测物料的质量吸收系数、密度、及r射线穿过被物料的有效厚度。
通过r源、物料及探测器的几何位置，可以严格推定I与H的关系，即Iout一H的关系。利用这种关系，可以编制出通用程序，从而可以计算出各种条件下Iout一H的关系。
匿名回答于2023-09-25 01:30:46
